IEC 60749-30 AMD 1-2011 半导体器件.机械和气候试验方法.第30部分:先于可靠性测试的非密封性表面贴装设备的预处理

作者:标准资料网 时间:2024-05-11 19:56:22  浏览:8771   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part30:Preconditioningofnon-hermeticsurfacemountdevicespriortoreliabilitytesting
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第30部分:先于可靠性测试的非密封性表面贴装设备的预处理
【标准号】:IEC60749-30AMD1-2011
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2011-05
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:大气压;温度变化;气候;气候上的;气候试验;组件;尺寸规格;电气工程;电学测量;电子工程;电子设备及元件;环境;环境测试;环境试验;易燃性;热学;集成电路;机械测试;潮气;温湿度预调节;可靠性;可靠性试验;耐力;半导体器件;半导体;表面安装设备;表面安装;温度;试验;外观检查(测试)
【英文主题词】:Atmosphericpressure;Changesoftemperature;Climate;Climatic;Climatictests;Components;Dimensions;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environment;Environmentaltesting;Environmentaltests;Flammability;Heat;Integratedcircuits;Mechanicaltesting;Moisture;Preconditioning;Reliability;Reliabilitytesting;Resistance;Semiconductordevices;Semiconductors;SMD;Surfacemounting;Temperature;Testing;Visualinspection(testing)
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:9P;A4
【正文语种】:英语